研究者一覧

安全で安心なシステムづくりのためのデバイス技術・分析評価技術

名前上田 修 工学博士
所属大学院工学研究科高信頼ものづくり専攻　教授
E-mailoueda@neptune.kanazawa-it.ac.jp
研究内容高性能・高機能な光・電子デバイスの信頼性評価技術の確立およびデバイスの長期信頼性・堅牢性の確保

　近年,社会を揺るがす重大な事故やシステム障害などが多発しており，社会・システムに甚大な損害をもたらしています．こうした事故や障害を未然に防止することが安全で安心な社会の実現に急務となっています．これらの事故・障害の多くは， システムを構成するデバイスの劣化に起因することが分かっています．半導体レーザ・発光ダイオードなどの半導体発光デバイスは，大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず， オーディオ / ディジタルシステムなどの民生機器用光源や光プリンタ用光源，照明用，溶接用，さらには医療用など極めて多岐にわたる分野に用いられており，その材料・構造も多種多様となっています．そのため，高性能で信頼性の高い製品を開発するには，発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではありませ．本研究では，このような半導体発光デバイスの長期信頼性を確保するため，発光デバイスの信頼性解析 ( ナノレベル含む ) 技術，劣化メカニズムの解明，薄膜材料中の格子欠陥の構造と性質などの研究に取り組んでいます．

 

  • 研究分野

半導体デバイス物理，半導体結晶工学，デバイス信頼性工学，電子顕微鏡，利用評価技術，ナノレベル分析評価技術

 

  • 所属学会

応用物理学会，日本顕微鏡学会，Materials Research Society

 

  • 現在の研究課題

・光・電子デバイス用半導体薄膜材料評価（欠陥・界面）

・デバイスの信頼性評価技術開発とフローチャート化

・劣化解析及び劣化機構解明によるデバイスの高信頼化

 

  • 主な研究業績

・  O. Ueda, “ Degradation of III-V opto-electronic devices ” （解説論文） , J. Electrochem. Soc. Vol. 135, No. 1, pp. 11C-22C (1988).

・  O. Ueda, “Reliability of Semiconductor Optical Devices”, Tutorial A, Materials Research Society 2008 Fall Meeting, Boston, U.S.A. (to be presented).

・  第51回電気科学技術奨励賞(オーム技術賞)(2003.11)，受賞対象：光通信用光源の劣化機構の解明と高信頼化，授与者：財団法人　電気科学技術奨励会

・  応用物理学会第1回フェロー表彰、「III-V族化合物半導体発光デバイスの劣化機構の解明に関する研究」、2007年8月、社団法人応用物理学会

 

半導体レーザの遅い劣化機構の研究
VCSELの劣化機構の研究
量子ドットレーザの劣化機構の研究
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